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Halbleiter-Wafer-Sondenkarte mit gebogener Wolframkarbid-Prรผfspitze. Die 1 ฮผm vergoldete Nadel gewรคhrleistet eine hohe Leitfรคhigkeit beim Testen von integrierten Schaltkreisen. Hergestellt fรผr prรคzise Wafer-Inspektionsaufgaben.
Nicht verfรผgbar in FR
Verfรผgbar in: DE
Produktbilder
Verfรผgbar bei Aliexpress.com
โฌ 82.69
| Farbe | Gold |
| Assembly Required | Nein |
| Foldable | Nein |
| Portable | Nein |
| Adjustable | Nein |
| Storage Compartments | Nein |
| Weather Resistant | Nein |
| Wasserabweisend | Nein |
| Easy Clean | Nein |
| Sustainable Materials | Nein |
| Bulb Included | Nein |
| Dimmable | Nein |
| Weather Protection Required | Nein |